Микроскоп-объектив с 2х кратным увеличением для проверки печатных плат на уровне компонентов
Подробнее
Описание
Микроскоп-объектив с 2х кратным увеличением для проверки печатных плат на уровне компонентов
- Тепловой анализ малых компонентов от 8-мкм на уровне чипа в печатных платах
- Сменные объективы с фокусировкой для максимально гибкого использования камеры
- В комплекте удобная подставка для микроскопа для непрерывной работы без помощи рук
- Частота кадров до 125 Гц позволяет выполнять мониторинг быстрых процессов (например, пульсацию лазерных светодиодов)
- Запись радиометрического видео или изображения в формате TIFF c погрешностью +/-2 °C
- Безлицензионное программное обеспечение для анализа и полный комплект SDK в базовой комплектации
Характеристики
Характеристики |
Основные технические характеристики
|